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透射密度计TBX2000

The TBX1000™ 透射密度计测量ISO视觉漫反射光学密度 (OD) 至6.60D. 较宽的测量范围允许对多种类型的材质如薄膜，层压板和基板进行评估.该设备带有一个2.00D的校准标准但有一个可选的校准标准值需要购买。TBX1500还可以测量正点和负点区域；TBX2000测量不透明度百分比和透射度。数据可以通过USB端口（配件需另外采购）上传电子表格。TBX™可以显示所有函数的存储参考值的偏差。

特点：

软键菜单操作
先进的光学系统，满足各行业的规格要求
7.5 英寸平台，可测量大样本
读数可重复高
可选带通滤波器
USB 端口标准
软件校准
可切换 LED 灯

非常适合测量金属薄膜的光学密度。

规格：

光学设计……………………………………………………………….............ANSI PH2.19

显示…………………………………………………………………………………..LCD屏幕（128x64像素）

光圈…………………………………………………………………………………..1，2，3毫米

杆长……………………………………………………………………………………7.5英寸

输出接口……………………………………………………………………………USB

电源输入……………………………………………………………………………12V输入110/220适配器

测量范围……………………………………………………………………………0-6.00D

准确度……………………………………………………………………………….0.02D

精度……………………………………………………………………………………0.01D

预热时间…………………………………………………………………………….无

选项：

型号	PART#	功能
TBX1000	FD343-10(USA);FF343-10 (Intl.)	密度；密度差
TBX1500	FD343-15 (USA); FF343-15 (Intl.)	密度；密度差；正负点距离
TBX2000	FD343-20 (USA); FF343-20 (Intl.)	密度；密度差；%密度；%透明度

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